波长色散X射线荧光光谱法测定氧化钼中主次成分

摘要：

采用粉末压片法制取试样,波长色散X射线荧光光谱法测定氧化钼中的Mo、Pb、Cu、Fe、SiO_2、CaO、K等7种成分.对仪器参数、基体干扰、曲线拟合进行了研究,试验了各成分的通道类型、晶体类型、探测器类型、管压、管流等分析条件后确定了最佳分析参数.选择了与试样基体相匹配的定值样品建立校准曲线,采取经验系数法对基体效应进行校正.对于主次量组分,相对标准偏差低于1%(n=11).方法用于实际样品的分析,其荧光分析值与湿法分析值相符.方法能够很好满足氧化钼的主次成分分析.

关键词：波长色散X射线荧光光谱法、氧化钼、粉末压片、主次成分

所属期刊栏目：30

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2010-06-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：28-31