粉末压片-X射线荧光光谱法测定地质样品中痕量硫的矿物效应佐证实验及其应用

摘要：

矿物效应是影响X射线荧光光谱(XRF)分析硅酸盐地质样品中S元素准确度的主要因素之一.本文在前人研究基础上,采用XRF仪器,运用粉末压片技术制备样品,从压力实验、S的灵敏度实验和质量吸收系数对比实验等方面对S的矿物效应进行了佐证;在此基础上,提出分类校准方案,建立了同一类型土壤和水系沉积物系列S的分析方法.方法检出限为1.36 μg/g,相对标准偏差为0.97%～3.2%(RSD,n=10),校准曲线准确度为0.005 8%,测量值与认定值比较吻合.该研究有助于进行硅酸盐地质样品中痕量S的XRF分析测试时结果的分析.

关键词：硫、X射线荧光光谱、粉末压片、矿物效应、地质样品

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分类号：O657.34(分析化学)

资助基金：国土资源部地质大调查项目1212010916066;国家自然科学基金项目40902055

在线出版日期：2010-04-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：7-11