X射线荧光光谱法测定铁矿石中主次成分

摘要：

采用玻璃熔片法制样,建立测定铁矿石中TFe、SiO_2、Al_2O_3、CaO、MgO、MnO、K_2O、TiO_2、P、S等主次成分的X射线荧光光谱分析方法.确定了仪器最佳参数,采用系列标样建立了校准曲线,以数学法校正基体效应.对稀释比、熔样时间等进行了探讨,结果表明,试样和熔剂的质量比以1:15、熔样时间以15 min为好,所得试样在熔剂中的分散度(浓度)适当,可同时适合试样中高、低含量组分的测定.采用熔融法分解试样的方法有效地消除了试样的粒度效应,精确度试验表明,待测元素的相对标准偏差在0.10%～7.14%之间,能满足铁矿石中各元素的检测要求.

关键词：X射线荧光光谱、玻璃熔片法、铁矿石、主次成分

所属期刊栏目：29

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2010-03-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：21-24