硅钼黄分光光度法测定硅微粉中二氧化硅

摘要：

针对硅微粉中SiO2含量较高且含Fe、Al等杂质的特点,本文研究了一种用无水K2CO3和KOH作熔融剂,钼酸铵作显色剂并用分光光度法测定二氧化硅含量的新方法.实验结果表明,在0.1～0.3 mol/L的酸度下,正硅酸与钼酸铵生成硅钼杂多酸(硅钼黄),选择硅钼黄的吸收波长在410 nm处,表观摩尔吸光系数为8.77×106 L·mol-1·cm-1.SiO2浓度在0～1.0 mg/mL范围内符合比尔定律,相关系数r=0.999 6,检出限为0.052 μg/mL.本法适用于硅微粉中二氧化硅含量的测定,回收率在99%～101%之间,相对标准偏差(RSD)控制在0.79%～1.8%(n=6)范围内,测定结果与X射线荧光光谱法的结果相一致.该方法亦可推广用于其他高含量二氧化硅样品的测定.

关键词：二氧化硅、硅微粉、钼酸铵、分光光度法

所属期刊栏目：29

分类号：O657.32(分析化学)

在线出版日期：2009-12-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：63-65