10.3969/j.issn.1000-7571.2008.11.009
电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钨铁中铜锰硅
研究了电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定钨铁中杂质元素Cu,Mn,Si的分析方法,确定了仪器最佳分析条件,考察了试样溶解、元素分析谱线、草酸介质的浓度对被测元素的的影响.试样经草酸-过氧化氢分解后,在草酸介质中,通过分别选择327.396 nm,279.482 nm,251.612 nm作为铜、锰,硅的分析线和适当的扣背景点,基体元素W,Fe和其他共存元素对测定没有干扰,可以不经分离直接测定.Cu,Mn,Si的检出限分别为0.005 2 μg/mL,0.007 2 μg/mL,0.009 0 μg/mL.本法可以用于同时测定钨铁中的铜、锰、硅,相对标准偏差(n=7)为0.47%~1.98%.
电感耦合等离子体原子发射光谱法、钨铁、铜、锰、硅、测定
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O657.31(分析化学)
2009-02-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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