X-射线荧光光谱法测定铝用炭素材料中微量元素
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1000-7571.2008.04.007

X-射线荧光光谱法测定铝用炭素材料中微量元素

引用
粉末压片法制样,选用预焙阳极、石油焦标准样品,采用X-射线荧光光谱法对样品中的S,V,Si,Fe,Na,Ca,Ni,Ti,Al,P,Pb,K,Mg,Cl,Mn,Cr,Cu,Zn等元素进行测定.讨论了样品研磨时间、粒度对测量强度的影响、光谱背景、元素间谱线重叠干扰和基体效应.在选定实验条件下,重复制样得到各元素的相对标准偏差均小于7.94%,对比试验结果袁明,测定结果与认定值或化学法测定值相符,该方法能满足铝用炭素中微量元素分析的需要.

X-射线荧光光谱、经验α系数、散射线内标法、铝用炭素

28

O657.34(分析化学)

2008-07-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

27-30

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

冶金分析

1000-7571

11-2030/TF

28

2008,28(4)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn