使用散射X-射线的理论强度进行土壤、岩石中微量重元素的X-射线荧光分析

摘要：

@@ 关于土壤、岩石中的Pb,As等微量重元素的X射线荧光分析方法,在求出荧光X射线和散射X射线的强度比,然后制作工作曲线,进行定量的方法已经有所报道.这种方法能够显著地减轻样品固有的矿物效应等因素,达到提高定量分析准确度的效果.然而,近来发展了不仅依据工作曲线,也能依据FP法进行定量的方法.FP法是对定量元素的荧光X射线进行理论强度计算.本文是对散射X射线也进行计算,用于多种样品的定量分析[1].

机标关键词：散射、射线、理论强度计算、土壤、岩石、微量重元素、荧光分析方法、fluorescence spectrometry、定量的方法、工作曲线、定量分析、分析准确度、样品、强度比、高定量、制作、效应、矿物

所属期刊栏目：24

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2005-07-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：230-231