X荧光融片法测定硅铝铁和硅铝钡铁中硅铝

摘要：

采用铂坩埚熔融法制样,对硅铝铁、硅铝钡铁中主量元素硅和铝进行X荧光光谱法测定.采用四硼酸锂在铂金坩埚内熔融后挂壁形成保护膜,以过氧化钠和过氧化钡混合物作熔剂,碘化铵作脱膜剂.此法不仅克服了粒度效应,而且避免了铂金坩埚腐蚀的危险,由于它的高度均质化,提高了测量的准确度,测量结果令人满意.

关键词：熔融、硅铝铁、硅铝钡铁、硅、铝

所属期刊栏目：24

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2005-07-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：228-229