ICP-AES法快速测定钼铁中锡锑硅铜

摘要：

@@ 钼铁中锡、锑、硅和铜等杂质元素的分析,按国家标准方法[1]须经过复杂的化学处理,再采用相应的分析方法测定,分析过程长,应用试剂多.锡、锑的质量分数为0.005%～0.008%时,允许差为0.003%,准确度差,远不能满足高附加值钢对高纯原材料杂质分析的要求.本文应用ICPAES法测定钼铁中主要杂质元素,能准确、快速地测定钼铁中锡、锑、硅、铜4种杂质元素.

机标关键词：快速测定、钼铁、硅铜、杂质元素、国家标准方法、质量分数、杂质分析、应用、化学处理、高附加值、分析方法、准确度、允许差、原材料、试剂

所属期刊栏目：24

分类号：O657.31(分析化学)

在线出版日期：2004-08-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：79-80