ICP-AES法测定钼铁中Mo,Si,Cu,Sb,Sn

摘要：

以电感耦合等离子体光谱法(ICP-AES)直接同时进行钼铁中基体元素Mo和微量杂质元素Si,Sb,Sn,Cu的测定.试验了元素的干扰情况,优化了仪器工作条件,采用钇内标校正与同步背景校正、K系数校正相结合的方法消除基体及试液进样的物理化学影响干扰.精密度、回收率、检出限、标准样品分析对照均取得了满意的结果.

关键词：ICP-AES、钼铁合金、钼、微量元素

所属期刊栏目：23

分类号：O657.31(分析化学)

在线出版日期：2003-09-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：28-30