锡(Ⅱ)增敏四环素体系导数荧光法测定铕及其增敏机理的探讨

摘要：

研究了锡(Ⅱ)对铕-四环素体系中铕的荧光增敏作用,对其增敏机理进行了探讨,并进一步研究了该体系荧光法测定铕的最佳测定条件.该体系测定铕的检测限为0.02μg/L,无锡存在时,铕的检测限为0.09μg/L.锡(Ⅱ)使铕的荧光检测限降低了4.5倍,用一级导数荧光法,使铕的荧光检测限进一步降低到0.011μg/L.成功地测定了混合稀土氧化物中铕的含量.

关键词：铕、四环素、锡、导数荧光法

所属期刊栏目：19

分类号：TF1(冶金技术)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：16-18