基于扫频技术的散射测量微波暗室设计

摘要：

传统微波暗室的考核指标是静区场均匀性,对于散射测量来说,这个指标并不能决定测量结果的准确性.在扫频测量系统的基础上,提出一种新的散射测量微波暗室优化设计目标--降低目标区背景噪声.分析了矩形微波暗室中有用信号和干扰信号的分布,指出了两者的不同特征.在理论分析的基础上,提出了降低目标区干扰信号的微波暗室设计方法.最后,给出了在这种设计思想指导下,实际建设的散射测量微波暗室目标区性能指标,其目标区背景噪卢比同类普通矩形微波暗室低10dB以上.

关键词：散射测量、微波暗室、扫频技术、背景噪声

所属期刊栏目：30

分类号：V418(基础理论及试验)

在线出版日期：2009-05-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：730-734