TR组件发射波形畸变批次故障分析

摘要：

在某批次收发组件(TR组件)随整机系统测试时,出现发射波形畸变故障现象.通过对该故障的分析,暴露出TR组件测试系统衰减器与整机测试系统的衰减器类型和衰减量不同,造成测试结果不一致;TR组件的相关检验文件只按技术协议要求施加标准激励,无静态测试,从而造成小信号输入产生自激的批次故障;TR组件所用功放在脉冲供电方式下防过冲措施不到位等3方面问题.

关键词：TR组件、发射波形、波形畸变、脉冲供电、过冲、批次故障

所属期刊栏目：35

分类号：TN384(半导体技术)

在线出版日期：2013-04-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：144-146