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10.3969/j.issn.1004-2474.2008.01.040

N2气氛烧结Bi1-xGdxNbO4微波介质陶瓷性能研究

引用
采用普通固相合成法制备了Bi1-xGdxNbO4微波介质陶瓷,研究了N2烧结气氛下,Gd部分取代BiNbO4陶瓷中的Bi对其烧结性能及微波介电性能的影响.结果表明,不同Gd掺杂量的样品,相结构差别不大,均以低温斜方相为主晶相.随着Gd含量的增加,陶瓷样品的烧结温度升高,表观密度和相对介电常数均略有减小, 品质因数与频率之积(Q×f)值也会发生变化.当x(Gd)=0.008时,900 ℃烧结的Bi0.992Gd0.008NbO4陶瓷样品具有较好的介电性能:介电常数εr=43.6(4.3 GHz),Q×f=14 288 GHz(4.3 GHz),谐振频率温度系数τf≈0 .

Bi1-xGdxNbO4、微波介质陶瓷、气氛烧结

30

TM22(电工材料)

2008-05-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

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1004-2474

50-1091/TN

30

2008,30(1)

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