10.3969/j.issn.1004-2474.2008.01.005
电子束蒸发沉积Ta2O5光学薄膜的研究
通过正交实验,以Ta2O5为初始膜料,采用离子源辅助电子束蒸发技术制备了Ta2O5光学薄膜.透射光谱显示,所制备的Ta2O5光学薄膜具有较高的透射率,极值点透射率约为93%,接近K9玻璃基片的透射率.极差分析表明,基片温度和离子源氧气流量是影响薄膜透射率的两个主要因素,而沉积速率的影响很小.分析了各制备参数对Ta2O5薄膜光学性能的影响,得到了采用离子源辅助电子束蒸发制备Ta2O5光学薄膜的最佳工艺参数.
Ta2O5、电子束蒸发、透射率
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TB43(工业通用技术与设备)
2008-05-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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