PLZT厚膜研究

摘要：

研究了用Sol-Gel法制备PLZT-7.5/70/30微粉的工艺,进行了相应厚膜的制备.探讨了微粉团聚问题及防止团聚的有关措施.由X射线衍射分析可知,在700℃下制备的PLZT-7.5/70/30厚膜为纯钙钛矿相.从铁电与热释电性测量结果可知,纯钙钛矿相PLZT-7.5/70/30厚膜的矫顽场Ec在28℃和43℃下分别为24.25kV/cm和18.13 kV/cm,热释电系数p=0.46 nC/cm2@℃.以上数据表明,PLZT-7.5/70/30厚膜材料是一种优选的热释电材料.

关键词：Sol-Gel、PLZT、厚膜、铁电特性、热释电特性

所属期刊栏目：23

分类号：TN304(半导体技术)

资助基金：湖北省自然科学基金99J047

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：359-361,390