射频磁控溅射法制备(Ba0.7Sro.3)TiO3铁电薄膜
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10.3969/j.issn.1004-2474.2001.04.014

射频磁控溅射法制备(Ba0.7Sro.3)TiO3铁电薄膜

引用
采用射频磁控溅射法制备了用于非致冷红外焦平面阵列的(Ba0.7Sr0.3)TiO3(BST)铁电薄膜.研究了BST铁电薄膜的制备工艺,分析了BST铁电薄膜的晶体结构和微观形貌.测试了其介电特性,测得的相对介电常数-温度曲线表明制备的(Ba0.7S0.3)TiO3铁电薄膜的居里温度在室温附近,约30°c处.

射频磁控溅射法、BST铁电薄膜、相对介电常数-温度曲线、居里温度

23

TN384(半导体技术)

国防科技电子顸研基金99J2.2.4Jw.0512

2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

293-295

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1004-2474

50-1091/TN

23

2001,23(4)

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