10.3969/j.issn.1004-2474.2001.03.020
测量聚合物薄膜电光系数的一种简单方法——干涉法
报道了一种测量聚合物薄膜电光系数的简单方法。这种方法是用石英晶体的逆压电效应补偿聚合物薄膜电光效应引起的光程变化,测量聚合物薄膜电光系数相对于石英晶体压电常数d11的大小,这种方法可以用来测量所有光学薄膜的电光系数。文章介绍了采用此方法测量几种新的聚合物薄膜的电光系数。
聚合物薄膜、电光系数、干涉法
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O484.8(固体物理学)
国家自然科学基金34062
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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