同轴探头法测量片状介质材料的微波介电常数

摘要：

提出了一种可用于测量片状介质材料微波复介电常数的同轴探头技术。该技术将同轴探头紧贴有导电衬底的片状介质，通过测量探头终端的矢量反射系数来确定介质的微波复介电常数。详细介绍了所采用的理论模型和测量系统。测量了一些常见介质材料的介电常数，测量值与理论值基本吻合。文章的同轴探头技术不仅可用于测量厚度较小的片状介质，而且可用于测量样品量有限的液体。

关键词：同轴探头、介电常数、介质材料：微波测量

所属期刊栏目：23

分类号：TM931

资助基金：国家自然科学基金59995320

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：63-67，84