一种由压电双晶片测量压电常数d31的方法
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1004-2474.2000.03.020

一种由压电双晶片测量压电常数d31的方法

引用
提出了一种新的测量方法,由一种实用元件--压电双晶片测量压电材料的压电常数d31的方法.这种测量方法不同于通常的由标准试样测量压电材料参数的方法.文中给出了测量原理、测量装置及由一种PZT样本的测量结果,并同时给出了IEEE标准测量方法的结果.理论和实验结果表明:这种新的测量方法是可行的.

压电常数、压电双晶片、压电测量方法

22

TM282(电工材料)

2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

203-205

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

压电与声光

1004-2474

50-1091/TN

22

2000,22(3)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn