60Co事故受照人员远期细胞遗传学效应观察

摘要：

对三例钴源事故受照人员照后6(7)年和11(12)年两次细胞遗传学随访结果表明,两次随访受照者染色体畸变率分别为4.29%和3.63%,均显著高于对照组(P<0.01),但两次随访间未见显著差异(P>0.05),而且第一次随访染色体畸变是以双+环和无着丝粒断片为主,第二次随访是以易位、缺失和倒位为主;两次随访受照者微核率分别为4.17‰和1.17‰,第二次随访微核率明显下降(P<0.01).提示随着照后时间推移, 非稳定性染色体畸变逐渐丢失,稳定性染色体畸变仍保持在较高水平.

关键词：60Co、事故照射、染色体畸变、微核、远期效应

所属期刊栏目：21

分类号：Q345+.1(遗传学分支学科)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：22-24