一种基于免疫克隆聚类的模拟电路故障诊断方法
针对模拟电路故障诊断样本结构复杂、分类困难的问题,提出了一种基于免疫克隆聚类的故障诊断方法.在免疫克隆聚类的基础上,设计两个目标函数,既实现了类内的紧凑性,又兼顾了样本的连通性.通过核密度估计,解决了克隆方向性问题;通过混沌变异避免算法陷入局部极值.实验结果表明,该方法对复杂结构样本聚类效果好,适用于解决模拟电路故障诊断问题.
故障诊断、免疫克隆、聚类
TP391(计算技术、计算机技术)
2017-06-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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