基于遗传算法的容差模拟电路可行域确定方法研究

摘要：

研究容差模拟电路故障诊断的方法,在简要介绍容差模拟电路和遗传算法的基础上,探索了应用遗传算法求取容差模拟电路可行域的可行性,并通过实例分析验证了该方法的有效性.

关键词：容差模拟电路、遗传算法、可行域

分类号：TN43(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2014-05-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：38-40,44