SoC测试性设计和验证方法关键技术研究

摘要：

超深亚微米技术(VDSM)和基于芯核的设计给芯片系统(System-on-a-Chip,SoC)测试和验证带来了测试难、验证复杂等新问题.文章对SoC设计特点、可测试性设计分类以及SoC测试访问机制(TAM)进行了深入综述,并讨论了传统集成电路(ASIC)验证方法的特点和SoC验证面临的问题;重点讨论了模块级验证、断言和形式验证技术、Farm技术和覆盖率分析以及基于随机测试激励等几种提高SoC验证功能的技术.

关键词：SoC、可测试性、验证

分类号：TM930

在线出版日期：2010-05-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：62-64