基于单片机的半导体禁带宽度测定

摘要：

针对采用光学法、电学法测量半导体禁带宽度时操作与数据计算都不够简便的问题,依据半导体物理学的基本规律:由半导体材料组成的PN结其正向电压VF和温度T在一定条件下具有高度的线性相关,利用常用物理实验仪器采集PN结的电压和温度信号,并加以放大和转换;单片机自动采集、存储、线性化放大和转换后的电压和温度信号,计算后显示测量结果.测量结果较准确、测量误差较小,用单片机对禁带宽度的实际测量可行、简便.

关键词：半导体、禁带宽度、PN结、单片机

所属期刊栏目：28

分类号：O471(半导体物理学)

在线出版日期：2014-02-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：39-42