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10.3969/j.issn.1674-358X.2012.02.002

氨气退火对ZnO纳米线阵列光致发光性质的影响

引用
采用水热方法在Si(100)衬底上制备ZnO纳米线.利用提拉法在Si衬底上首先制备ZnO晶种层,然后利用水热法在晶种层上生长ZnO纳米线.在不同温度下的NH。气氛中,对zn0纳米线进行退火处理.系统地研究了NHs退火对ZnO纳米线光学性质的影响,在低温光致发光光谱中观察到了-9氮受主相关的光发射,并通过自由电子一受主辐射复合光发射确定受主离化能为129meV.实验结果还表明,随着退火温度的升高,施主一受主对辐射复合发光呈现了微弱红移现象.在700℃退火的条件下制备的ZnO纳米线的低温PL谱中,观察到较为明显的自由激子光发射,并采用理论拟合进行证明.

ZnO纳米线、NH3、退火、光致发光

27

O472.3(半导体物理学)

基金项目:国家自然科学基金项目10774076

2012-08-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

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徐州工程学院学报(自然科学版)

1674-358X

32-1789/N

27

2012,27(2)

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