系统芯片测试调度模型及其调度算法

摘要：

系统芯片的设计是基于IP核的设计,整个芯片的测试包括各个IP核和粘合逻辑的测试.根据测试基准模型ITC02建立了系统芯片测试调度模型,该模型假定系统芯片的每个模块有若干个可供选择的测试资源,已知使用每个测试资源所完成该测试的时间和功耗.在最大功耗约束下,提出了一种通用的测试调度算法,并针对构造的基准电路,给出了该调度算法的实现结果.

关键词：系统芯片、调度算法、测试资源、IP核、ITC02测试基准电路

所属期刊栏目：21

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金90207020

在线出版日期：2008-06-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：294-296,300