基片斜切角度对YBCO薄膜微观结构及超导电性能的影响

摘要：

研究基片斜切角度对YBCO薄膜微观结构及超导电性能的影响.采用脉冲激光沉积(PLD)法在0°～6°斜切(001)SrTiO3基片上制备了具有c取向的YBCO薄膜.用XRD和TEM对薄膜微观结构进行了分析,用标准四引线法测定薄膜电阻-温度关系,从而确定薄膜的超导电性能.结果表明,随斜切角度的增大,薄膜晶体质量下降,晶格弯曲畸变程度增大,超导临界转变温度降低,转变宽度增大.

关键词：YBCO薄膜、微观结构、斜切基片、超导电性

所属期刊栏目：36

分类号：O484.1(固体物理学)

在线出版日期：2007-08-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：862-864