基于配对t检验的侧信道泄露评估优化研究

摘要：

以t检验为理论基础的TVLA方法具有简单、快捷、可靠,并且不需要掌握密码算法实现细节的优点,已成为密码算法的侧信道泄露评估标准.为减少环境噪声波动的影响、提高评估效率,研究者引入了配对t检验.本文针对非特定配对t检验的侧信道泄露评估进行了研究,发现了两个问题:(1)配对功耗轨迹组间采样点相关性系数小于0时出现第I类错误;(2)可能会出现死区.针对以上问题,提出了一种非特定配对t检验的侧信道泄露评估优化方案.对AES算法的侧信道泄露评估实验表明,本文方法比传统分组t检验的评估方法减少70%功耗轨迹数量和45%的计算时间.

关键词：侧信道泄露评估、配对t检验、Welch t检验、检测效能

所属期刊栏目：40

分类号：TP309(计算技术、计算机技术)

资助基金：广东省公益研究与能力建设专项项目2016a010101030;国家自然科学基金面上项目61872096

在线出版日期：2020-01-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：2585-2590