面向软错误的寄存器活跃区间分析

摘要：

继性能和功耗问题之后,软错误导致的计算可信性已成为一个日益严峻的课题.由于寄存器访问频繁却未能被良好保护,发生在其中的软错误成为影响系统可靠性的关键因素之一.基于程序汇编代码,提出一种针对寄存器软错误的程序可靠性静态分析方法.首先通过数据流分析技术提取出可能影响程序执行的寄存器活跃区间,然后基于构成活跃区间的基本块集合计算其有效体系结构易感位数,在此基础上可定量计算寄存器软错误影响下的程序可靠性.基于MiBench基准程序的实验表明,该方法的分析结果与AVF分析法保持一致,同时还指出了寄存器相关活跃区间的关键程度,这为实现针对寄存器软错误的高效容错方法提供了依据.

关键词：软错误、寄存器、程序可靠性、数据流分析、过程间分析

所属期刊栏目：33

分类号：TP302(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2012-05-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：83-89