超高频无源RFID系统中Capture效应建模与分析

摘要：

针对超高频无源射频识别(RFID)系统中 Capture效应的分析问题,提出一种新颖的Capture模型-RFIDCap,并通过Monte-Carlo仿真分析了各系统参数对Capture效应的影响,同时比较了RFIDCap及其他传统模型与测试结果的符合程度.RFIDCap综合考虑了读写器抗干扰能力、无线信道损耗及衰落、标签反向散射等因素.仿真结果表明,读写器capture阈值、碰撞标签数量及标签位置是影响capture概率的主要因素.测试结果表明,实测数据与RFIDCap仿真值的均方误差小于3%,相对传统模型(均方误差大于12%)有较大幅度的改善.

关键词：Capture效应、射频识别、Capture模型

所属期刊栏目：32

分类号：TN92

资助基金：国家"十一五"科技支撑计划项目2008BAI55B07

在线出版日期：2012-03-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：342-346