嵌入式存储器的多故障自修复方法

摘要：

使用冗余行覆盖占故障总数70%的单故障,导致冗余资源的浪费.为提高冗余资源的利用率,提出一种高效的修复方案,即冗余行覆盖多故障,纠错码修复单故障.当采用码率大于1/2的纠错码修复单故障时,校验住的长度小于冗余行的长度,节约了面积开销.通过2~4×8比特静态随机存取存储器(SRAM)的自修复实验,验证了新方案的可行性.实验结果表明,与冗余行结构相比,新的修复方案可以减小面积开销,提高芯片的最大工作频率.

关键词：芯片系统、嵌入式存储器、内建自测试、内建自修复、冗余行、纠错码

所属期刊栏目：31

分类号：TP302.8(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金项目60871009,90505013;航空科学基金项目2006ZD52044,04152068

在线出版日期：2010-03-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：179-182