VLSI设计中容性交叉耦合对时序分析的影响
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1000-1220.2007.11.030

VLSI设计中容性交叉耦合对时序分析的影响

引用
互连线间的容性交叉耦合已成为影响线路延迟的一个重要因素,因此本文将阶层设计中有意义的层次结构考虑到电路时序分析中,在存在静态敏化和动态敏化交叉耦合的电路中提出了局部伪交叉耦合和全局伪交叉耦合的概念,给出了一种利用模块间功能关系考虑由于模块间连接而产生的全局伪交叉耦合的综合的时序分析方法.实验数据证明,本文方法在不影响运行速度的前提下可以有效地识别出伪交叉耦合,提高了时序验证的准确性.

时序验证、交叉耦合、耦合电容、层次设计

28

TP333(计算技术、计算机技术)

国家自然科学基金60273081

2007-12-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

2062-2065

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

小型微型计算机系统

1000-1220

21-1106/TP

28

2007,28(11)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn