与非型快闪存储器可靠性评价方法分析

摘要：

针对与非型快闪存储器 (NAND FLASH) 的耐久、数据保持、编程干扰、读干扰等可靠性指标, 分析当前可靠性评价中面临的困扰及国内外现有研究基础;根据其失效机理, 研究提出各项指标的评价方法, 以及试验应力的选取思路.

关键词：与非型快闪存储器、耐久、数据保持、干扰、评价

分类号：U676.1;TN406;F224.5

在线出版日期：2018-10-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：70-74