功率 MMIC 芯片加速寿命试验方法研究

摘要：

本文分析了单片微波集成电路（MMIC）芯片的主要失效模式和失效机理，其与 MESFET 等有源器件的主要失效模式和失效机理基本相似，并简要介绍了加速寿命的试验原理。基于此，研究给出了包括试验样品的预处理、敏感参数及失效判据的确定、温度应力的选取、失效分析和数据处理等内容的功率 MMIC 芯片的加速寿命试验方法。

关键词：微波技术、单片微波集成电路、加速寿命

分类号：TP3;V24

资助基金：中国人民解放军总装备部共性支撑项目

在线出版日期：2014-09-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：35-40