10.3969/j.issn.2095-6649.2014.7.04
功率 MMIC 芯片加速寿命试验方法研究
本文分析了单片微波集成电路(MMIC)芯片的主要失效模式和失效机理,其与 MESFET 等有源器件的主要失效模式和失效机理基本相似,并简要介绍了加速寿命的试验原理。基于此,研究给出了包括试验样品的预处理、敏感参数及失效判据的确定、温度应力的选取、失效分析和数据处理等内容的功率 MMIC 芯片的加速寿命试验方法。
微波技术、单片微波集成电路、加速寿命
TP3;V24
中国人民解放军总装备部共性支撑项目
2014-09-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共6页
35-40