10.3969/j.issn.2095-6649.2013.12.007
扫频测量在GMI效应测试中的应用
对磁性材料巨磁阻抗(GMI)效应的研究需要测试其在不同频率下的GMI曲线,而用传统GMI测试方法构建的系统在单次测试中只能得到单个频率下的GMI曲线,因此需要多次测试才能得到材料在不同频率下的GMI曲线,测试效率十分低下。本文将扫频测量方法引入于GMI效应的测试中,分析了GMI效应扫频测量的原理,并应用于LabVIEW软件编写的GMI测试系统程序。通过对Vitrovac6025带材的GMI效应进行对比测试实验,发现该扫频测量方法测得的GMI效应曲线与其他文章测试结果一致,并且该方法可以在单次测试中实现被测材料的多个频率下GMI效应的同时测量,从而大大减少了GMI测试所耗费的时间,提高了测试效率。
巨磁阻抗效应、扫频、测试
TP29(自动化技术及设备)
国家自然科学基金青年科学基金项目41004079;高等学校博士学科点专项科研基金资助课题20100145120007;中国地质大学武汉中央高校基本科研业务费专项资金资助项目CUG120107。
2014-02-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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