基于混合本征模匹配的光刻掩膜分析方法研究
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.12305/j.issn.1001-506X.2023.11.02

基于混合本征模匹配的光刻掩膜分析方法研究

引用
隐式模式匹配是分析波导结构电磁特性常用的数值方法.分析了现有隐式模式匹配方法在解决计算光刻问题上存在的局限性,以该方法为基础,提出了基于Krylov子空间理论的混合本征模重构以及显式模式匹配方法.修正了隐式模式匹配方法中采用的非严格迭代策略导致的本征模精度不足问题,算法计算复杂度保持在O(N1.5).采用典型波导及周期结构对所提算法的精度及效率进行了验证.通过对高复杂度光刻掩膜结构进行仿真,将计算结果与高频结构仿真器软件以及严格耦合波分析(rigorous coupled wave analysis,RCWA)算法结果进行了对比,验证了本文所提方法在分析高复杂度光刻问题中的应用价值和效率优势.

计算电磁学、模式匹配、计算光刻

45

O436.1(光学)

国家自然科学基金;北航卓越百人计划;广西自然科学基金项目;广西科技基地和人才专项资助课题

2023-11-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共8页

3374-3381

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

系统工程与电子技术

1001-506X

11-2422/TN

45

2023,45(11)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn