多值故障字典的测点选择与序测试设计

摘要：

序贯测试问题是目前的一个研究热点.由于时间复杂度太高,传统的序贯测试算法对于测点数大于12的系统无能为力.为此,将序贯测试问题拆分为测点选择与序测试设计两个问题.测点选择问题用A*算法解决:运用M进制编码规则,首先给出了启发函数的计算方法,然后给出了能够得到所有最小测点集的改进的A*算法.序测试设计问题用AO*算法解决:对二值哈夫曼编码规则进行推广得到了多值编码规则,根据此规则给出了AO*算法启发函数的计算方法.提出的方法更符合可测性设计的设计流程,试验和复杂度分析表明该方法能显著降低传统方法的时间复杂度.

关键词：多值故障字典、测点选择、序贯测试问题、可测性设计

所属期刊栏目：31

分类号：TN710(基本电子电路)

资助基金：国家自然科学基金60772145;国防基础科研计划A1420061264;高等学校博士学科点专项科研基金20070614018;电子科技大学青年基金重点项目资助课题

在线出版日期：2009-11-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：2271-2275