基于两维压缩特征字分析的BIST性能分析

摘要：

在现代电子系统的设计过程中,由于对系统的可靠性和可维护性要求越来越高,因此必须针对具体情况设计相应的内建自检(built-in self-testing,BIST)模块,从而保证系统能够进行准确的故障检测和故障定位与隔离.提出了一种基于两维压缩特征字分析的BIST方法,就其压缩原理和检测性能进行了详细分析.分析结果表明,通过时域和空域的两维压缩,可以用较短的特征字实现高故障覆盖率.该方法简单可靠,便于硬件实现.

关键词：信号处理、自检验、特征分析、故障安全设计

所属期刊栏目：23

分类号：TN911.7

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1-4