特大规模组合电路测试数据产生方法研究

摘要：

针对特大规模组合电路和全扫描设计电路提出了一种高速测试生成方法.该方法采用有限回溯测试模式产生方法生成测试码,采用n(机器字长)个测试码并行的单故障传播方法模拟验证测试覆盖.测试生成与故障模拟为n对1紧耦合集成方式.该方法运行10个Benchmark电路,取得了低测试长度、高故障覆盖、高效率的良好效果.

关键词：电路可靠性、测试技术、故障模拟

所属期刊栏目：21

分类号：TN7(基本电子电路)

资助基金：中国科学院资助项目

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1-5