磁套筒内爆产生的MRT不稳定性
通过采用三区平板模型和线性化的磁流体力学方程组,在不可压缩的条件下得到了增长率满足的色散关系.给出了增长率随内爆加速度的变化关系,随着内爆加速度的增加,增长率也不断增加.可以看出,在存在轴向磁场的情况下,对MRT不稳定性的发展有明显的抑制效果.另外,还给出了不同纵横比下内外界面扰动随时间的变化关系,可以看出在6~8之间,外界面对内界面的影响较小.虽然更小的纵横比可以让外界面扰动对内界面扰动的影响变得更小,但是这样不利于实验室的内爆过程;而更高的纵横比意味着更薄的套筒,不但会使MRT不稳定性对内界面的影响增大,而且自身的厚度可能也会导致套筒破裂而失去完整性.
MRT不稳定性、Z箍缩、磁流体力学
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O534+.2(等离子体物理学)
国家自然科学基金项目11475027
2018-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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