磁套筒内爆产生的MRT不稳定性
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

磁套筒内爆产生的MRT不稳定性

引用
通过采用三区平板模型和线性化的磁流体力学方程组,在不可压缩的条件下得到了增长率满足的色散关系.给出了增长率随内爆加速度的变化关系,随着内爆加速度的增加,增长率也不断增加.可以看出,在存在轴向磁场的情况下,对MRT不稳定性的发展有明显的抑制效果.另外,还给出了不同纵横比下内外界面扰动随时间的变化关系,可以看出在6~8之间,外界面对内界面的影响较小.虽然更小的纵横比可以让外界面扰动对内界面扰动的影响变得更小,但是这样不利于实验室的内爆过程;而更高的纵横比意味着更薄的套筒,不但会使MRT不稳定性对内界面的影响增大,而且自身的厚度可能也会导致套筒破裂而失去完整性.

MRT不稳定性、Z箍缩、磁流体力学

39

O534+.2(等离子体物理学)

国家自然科学基金项目11475027

2018-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

9-13

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

湘潭大学自然科学学报

1000-5900

43-1066/TN

39

2017,39(3)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn