尺寸对铜纳米薄膜2p3/2能级偏移的影响

摘要：

结合断键理论(BOLS)和X射线光电子能谱(XPS)分析尺寸对铜纳米薄膜2p3/2能级偏移的影响.通过研究实验测得的XPS谱数据发现铜块体2p3/2的结合能为932.70 eV,相对于铜单原子2p3/2的结合能931.00 eV偏移了1.70 eV.能级产生正偏移主要因为尺寸引起了键收缩,从而引起局域应变、量子势阱以及哈密顿量微扰的变化,最后导致了能级正偏移.事实证明我们可以利用配位数和化学环境来分析XPS谱,并进一步确定有关局域键长、键能、束缚能密度以及原子结合能等定量信息.

关键词：X射线光电子能谱、能级、铜纳米薄膜

所属期刊栏目：36

分类号：O641(物理化学（理论化学）、化学物理学)

资助基金：国家自然科学基金面上项目11242005,11002121

在线出版日期：2014-11-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：16-22