应力释放诱导的酞菁钴转子阵列
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.13718/j.cnki.xsxb.2019.05.004

应力释放诱导的酞菁钴转子阵列

引用
利用低温扫描隧道显微镜研究了酞菁钴(CoPc)分子在Cd(0001)表面上形成的自组装单层和转子阵列.在低温生长的酞菁钴分子单层中发现了应力诱导的3种空位结构:单分子空位、两分子空位和三分子空位.研究发现高温退火会导致结构相变:3种空位结构转变为均匀分布的单分子空位阵列.特别有趣的是,在每个单分子空位内部都存在一个酞菁钴转子.在液氮温度下(78 K),酞菁钴转子围绕着空位中心发生偏心转动;在液氦温度下(4.7 K),转子被冻结在空位的边缘上.

扫描隧道显微镜、酞菁钴分子、金属Cd (0001)、酞菁钴转子

44

O485(固体物理学)

中央高校基本科研业务费专项资金项目XDJK2018D025;重庆市教委研究生科研创新项目CYS17085

2019-07-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

19-23

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

西南师范大学学报(自然科学版)

1000-5471

50-1045/N

44

2019,44(5)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn