10.3969/j.issn.1000-5471.2006.03.012
电弧离子镀工艺参数对CrSiN薄膜性能影响的研究
利用电弧离子镀方法,在(SCM415)钢基体上制备了Cr-Si-N薄膜.通过调节Cr-Si靶中Si的比例,沉积了Si含量不同的Cr-Si-N薄膜.讨论了Si含量、偏压对薄膜硬度的影响.添加Si后得到的纳米复合薄膜Cr-Si-N的硬度比单纯的CrN薄膜有了显著的提高.采用X射线衍射(XRD)和X射线光电子能谱(XPS)对Cr-Si-N薄膜进行分析,研究讨论了Cr-Si-N薄膜的成分、结构及薄膜硬度增强的微观机制.
电弧离子镀、Cr-Si-N薄膜、显微硬度、内部压缩应力
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O484.4(固体物理学)
西南大学校科研和校改项目SWNUF2005001
2006-07-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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