利用下端腐蚀法制备纳米级STM探针

摘要：

在深入分析电化学腐蚀原理的基础上,发现了一种提高针尖的尖锐程度的新方法,即:利用下端腐蚀方法得到了比传统的上端腐蚀方法更尖锐的针尖.通过对腐蚀电压、腐蚀溶液浓度、切断时间的研究和分析,总结出下端腐蚀法制备纳米级STM探针的最佳综合条件；并通过对前人方案的修改和完善,研制了一套自动控制切断电路装置,该电路装置可以任意设置切断条件,以此得到不同粗细的针尖；最后将据此制作的纳米级针尖成功地应用于Unisoku-STM仪器的扫描,得到了清晰、稳定的原子级分辨Bi (0001)图像.

关键词：扫描隧道显微镜、电化学腐蚀、液膜法、自动切断电路、STM探针制备

所属期刊栏目：33

分类号：O469(真空电子学（电子物理学）)

资助基金：国家大学生创新实验基金资助项目091063535

在线出版日期：2012-05-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：39-44