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10.3969/j.issn.0258-2724.2008.06.023

Al 掺杂 T-ZnO 晶须的光致发光及场发射性能

引用
用丝网印刷法将 Al 掺杂的 T-ZnO 晶须制备成薄膜,以研究其结构形貌、光致发光及场发射性能.所有发光谱均由强的紫外光发射(发光中心集中在373~383 nm)和宽的黄绿光发射(发光中心集中在510~540 nm)组成.ZnO薄膜的内部缺陷浓度决定黄绿光发射的强度.掺杂0.5 mol/L的Al样品的紫外光强度最大,场发射性能最好,其开启电场和阚值电场分别达到0.74 V/μm和2.6 V/μm,场增强因子值为30 249.

T-ZnO、晶须、场发射性能、紫外光发射

43

TB34(工程材料学)

四川省重点科技攻关项目2006z02-06-3

2009-03-03(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

806-809,815

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西南交通大学学报

0258-2724

51-1277/U

43

2008,43(6)

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