改进的CK度量套件

摘要：

为弥补CK套件中每类加权方法数量、继承树深度和方法内聚缺乏度等度量指标的缺陷,提出了如下改进的度量指标:每类加权方法参数复杂性(WMACC)、每类加权方法属性复杂性(WACC)、相对继承树深度(RDIT)、方法内聚性(CM)和封装率(ER).用Java的Util包中的类作为测试数据比较了ICK度量套件和CK套件,结果表明,WMACC和CM更准确地反映了方法的复杂性和内聚性,RDIT更适合于纯面向对象系统的环境.WACC和ER提供了对属性复杂性和封装性的度量.

关键词：软件度量、CK套件、软件工程、每类加权方法数量、继承树深度、方法内聚性缺乏度

所属期刊栏目：43

分类号：TP311(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2008-05-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：35-39