纳米SnO2薄膜的制备及其表征

摘要：

采用溶胶-凝胶法在玻璃基体表面制备纳米SnO2薄膜,通过热处理使其晶化.通过原子力显微镜(AFM)形貌分析表明,在20～80 nm的粒径范围内,可通过工艺配方参数的调整人为控制SnO2薄膜的颗粒大小.通过工艺优化制得粒径为27 nm左右的薄膜,薄膜颗粒较小,分布均匀,薄膜的透明性好.X射线衍射(XRD)结果表明,随着热处理温度的增加,SnO2特征峰愈来愈尖锐明显,晶体结构趋于完全.Zeta电位分析表明,添加分散剂溶胶的Zeta电位比未添加分散剂溶胶的Zeta电位高;Zeta电位越高,溶胶稳定性越好.

关键词：纳米SnO2、溶胶-凝胶法、表征、X射线衍射

分类号：TG174;O64(金属学与热处理)

资助基金：上海市教委资助项目04NB11

在线出版日期：2007-07-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：107-109