10.3969/j.issn.2095-5448.2018.05.012
炭黑颗粒尺寸和形态特征的透射电子显微镜分析
用透射电子显微镜(TEM)分析炭黑颗粒尺寸和形态特征.结果表明:采用本研究TEM炭黑形貌分析(软件分析)方法测试的炭黑初级粒子平均粒径与炭黑初级粒子粒径标称值相符,炭黑形态特征与实际相符,炭黑电镜比表面积变化趋势与统计吸附层厚度表面积相同.该方法数据准确、可靠,分析高效、便捷.
透射电子显微镜、炭黑、聚结体、初级粒子、颗粒尺寸、形态特征
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O766+.1;TQ330.38+1(晶体结构)
2018-06-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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