基于加速老化试验的O形密封圈存储寿命预测

摘要：

对库存O形密封圈(简称O形圈)进行基于热应力的加速老化试验与存储寿命预测.结合O形圈特点,选取拉断伸长率作为关键指标,根据多温度下拉断伸长率随时间的变化趋势,计算材料的活化能,进而预测O形圈的存储寿命.3种O形圈存储寿命预测值与实际存放情况吻合,证明方法有效.

关键词：O形密封圈、加速老化试验、拉断伸长率、存储寿命、寿命预测

所属期刊栏目：62

分类号：TQ333.93

在线出版日期：2015-12-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：694-696